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產地類別 | 國產 |
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半導體粉末電阻率測試儀 型號;MHY-23089
MHY-23089半導體是本公司根據能源方面,與其是鋰電池的研究需求,開發的新型粉末電阻率測試儀。
本產品參照有關際標準,配置粉末測試臺或四探針測試臺,可以對粉末、片狀、塊狀半導體材料以 及固態金屬行電阻、電阻率、方塊電阻等多用途測量。
測量范圍:電阻10-4---106,分辨率1μΩ. ㎝。
電阻率 10-4---106,分辨率1μΩ. ㎝。
薄層電阻 10-3 ---- 107 Ω/□ ,分辨率10-5 Ω/□。
測量電壓量程:0.2mv2mv20mv200mv2v,分辨率0.1μν,測量度 ±(0.3%讀數+2字)。
測量電:0--100mA 連續可調。電量程 1μΑ、10μΑ、100μΑ、1mΑ、10mΑ、100mΑ。
粉末測量:1、試樣粒度--標準篩網40目以上直至納米材料。 2、試樣容器---內腔φ16.30±0.1mm或φ6±0.1mm。 3、試樣度---16mm±0.5mm或6~20mm±0.1mm。測量誤差±0.1mm。4、取樣壓力--4Mpa±0.5Mpa(40kg/cm2 ±0.5kg/cm2 )或8Mpa±0.5Mpa(80kg/cm2 ±0.75kg/cm2 ),壓力量程--0~200kg可調。
固體薄膜及半導體測量:四探針測試架---1、探針間距1mm±0.03mm;2、探針游移率﹤±0.3%;3、可測材料尺寸--直徑φ15~160mm,長度<400mm。
顯示方式:3½位數字顯示電阻、電阻率、壓力、度。單位、小數點自動顯示。
電源:220±10% 50HZ~60HZ 率消耗<150W。
外形尺寸: 440mm×120mm×420mm。
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